Chroma Model 19501 局部放電測試儀，Model 19501 可提供交流耐電壓測試（Hipot Test），測量待測物的漏電流（Leakage Current）與電氣閃絡(luò)（Flashover），同時提供局部放電（Partial Discharge, PD）測量功能，檢測待測物上局部放電的電荷量（單位：皮庫，pC）?，F(xiàn)在熱賣中，如需購買，可通過ai1718的客服熱線聯(lián)系我們！

Chroma Model 19501 局部放電測試儀介紹

致茂（Chroma）19501 局部放電測試儀可提供交流耐電壓測試（Hipot Test），測量待測物的漏電流（Leakage Current）與電氣閃絡(luò)（Flashover），同時提供局部放電（Partial Discharge, PD）測量功能，檢測待測物上局部放電的電荷量（單位：皮庫，pC）。對高壓元件與高耐壓絕緣材料進行交流耐電壓與局部放電測試，能確保產(chǎn)品的絕緣品質(zhì)并提升產(chǎn)品可靠性。
19501 的設(shè)計符合 IEC60270 標準對局部放電測量的要求，局部放電量的測量結(jié)果以直觀的電荷數(shù)（pC）顯示在主機屏幕上。同時，該儀器還參考了 IEC60747 與 VDE0884 標準的要求，將測試方法內(nèi)置于儀器中，方便用戶操作與設(shè)定。
當(dāng)絕緣體內(nèi)存在氣泡（Void）或絕緣體間存在氣隙（Air gap）時，在正常工作電壓下，氣泡或氣隙會因電場強度較高而可能引發(fā)局部放電（PD）。若電源系統(tǒng)的應(yīng)用元件（如光耦合器、數(shù)字隔離器、絕緣柵雙極型晶體管（IGBT）、變壓器、電機等）長時間發(fā)生持續(xù)性局部放電，絕緣材料會逐漸劣化，最終導(dǎo)致絕緣失效，進而引發(fā)人身安全問題。因此，相關(guān)標準建議或要求對這類元件執(zhí)行局部放電檢測。例如，IEC60747-5-5 標準要求光耦合器在生產(chǎn)過程中的例行測試（Routine test）階段必須 100% 執(zhí)行局部放電（PD）檢測，在zuida絕緣電壓條件下，局部放電量不得超過 5pC，以確保產(chǎn)品在正常工作電壓下不會發(fā)生局部放電（PD）。

Model 19501 局部放電測試儀特點
交流高壓輸出與 PD 測量采用主機分離式設(shè)計
內(nèi)置符合標準要求的測試方法
三段電壓測試方法
PD 測量結(jié)果以數(shù)值形式顯示（單位：pC）
可設(shè)定 PD 不良發(fā)生次數(shù)判定閾值（1-10 次）
USB 畫面擷取功能
圖形化輔助編輯功能
標準 LAN、USB、RS232 遠程控制接口
支持繁體中文 / 簡體中文 / 英文操作界面

電氣放電理論說明
局部放電（Partial Discharge）
當(dāng)絕緣體內(nèi)存在氣泡（Void）或絕緣體間存在氣隙（Air gap）時，在正常工作電壓下，氣泡或氣隙容易發(fā)生局部放電，導(dǎo)致絕緣劣化，造成絕緣品質(zhì)異常。為何局部放電易發(fā)生在樹脂內(nèi)的氣泡或漆包線間的氣隙？這是因為空氣的介電系數(shù)較低，氣泡或氣隙的電容量比原絕緣材料小，因此會分配到相對更高比例的電壓；且在相同間隙距離條件下，氣泡或氣隙的崩潰電壓低于絕緣材料。這類發(fā)生于氣泡或氣隙等局部瑕疵，但與之串聯(lián)的絕緣材料仍維持正常狀態(tài)的放電現(xiàn)象，稱為局部放電。
對待測物施加足夠的測試電壓時，可利用局部放電偵測功能測量放電電荷量（pC），確認待測物的絕緣材料是否存在絕緣品質(zhì)異常的潛在風(fēng)險。因此，通常會施加一個略高于元件zui高額定工作電壓的電壓進行局部放電測試，以確保元件在正常工作電壓下長時間運行的可靠性（無持續(xù)性局部放電）。

應(yīng)用說明
功率元件中的 IGBT 與 SiC-MOSFET 等被廣泛應(yīng)用于各類領(lǐng)域（如電子產(chǎn)品、工業(yè)設(shè)備、航空航天、鐵路設(shè)備、新能源、智能電網(wǎng)、新能源汽車等），且常被用于高功率 / 大電流的電源轉(zhuǎn)換 / 控制線路，工作電壓通常為數(shù)千伏特。由于這類元件需要頻繁切換導(dǎo)通（ON）/ 關(guān)斷（OFF）狀態(tài)，模塊中的柵極（Gate）與集電極（Collector）或漏極（Drain）之間，以及模塊與散熱板之間會出現(xiàn)脈沖寬度調(diào)制（PWM）高電壓差。當(dāng)高電壓跨越含有氣泡、氣隙或裂縫的絕緣材料時，極有可能發(fā)生局部放電；經(jīng)過長時間工作后，絕緣材料會逐漸劣化，最終導(dǎo)致絕緣失效，造成產(chǎn)品損壞。

此外，每個模塊的柵極（Gate）與發(fā)射極（Emitter）或源極（Source）之間的工作偏壓可能由各自的變壓器提供，而變壓器的一次側(cè)與二次側(cè)之間也會存在高頻高電壓差。若變壓器一次側(cè)與二次側(cè)的絕緣能力不足，持續(xù)性異常放電的突波可能導(dǎo)致數(shù)字控制動作異常及晶體管故障。盡管變壓器使用的線材本身可能具備足夠的耐壓能力（如耐壓 3000V 的線材），但當(dāng)一次側(cè)與二次側(cè)的線圈相鄰過近或貼合時，看似線材之間可承受較高耐壓（如 6000V），實際在一般電壓（如 1000V）下工作一段時間后就可能發(fā)生故障。這是因為線材絕緣皮的介電系數(shù)遠大于空氣，導(dǎo)致空氣間隙的跨電壓 / 分壓比例相對較高；當(dāng)線材之間空氣間隙的跨電壓達到 > 350V（1 個標準大氣壓下空氣最短距離所需的放電起始電壓）時，線材之間的局部表面會開始發(fā)生局部放電。由于線材絕緣皮不會立刻劣化 / 損壞，持續(xù)使用一段時間后，絕緣皮會逐步碳化，最終導(dǎo)致變壓器一次側(cè)與二次側(cè)短路。

光耦合器與數(shù)字隔離器被應(yīng)用于各類需要隔離的環(huán)境，當(dāng)隔離的高電壓跨越含有氣泡或裂縫的絕緣材料時，氣泡或裂縫上可能會產(chǎn)生足夠高的分壓，從而引發(fā)局部放電。經(jīng)過長時間劣化后，絕緣材料會因絕緣失效導(dǎo)致電壓隔離失效。

測量技術(shù)
局部放電器校正
局部放電測試設(shè)備用于測量與判定微小放電量，其信號極其微弱且快速，同時受待測物實際容量影響。因此，局部放電量測設(shè)備必須經(jīng)過精確校正，才能確保局部放電發(fā)生時，高頻放電信號能夠被精準測量。

高壓模塊（A195005 & A195004）
高壓模塊具備高精度與大范圍的局部放電測量能力，可根據(jù)待測物的電容值與 PD 放電量測量需求選擇不同模塊：
A195005 具有四個 PD 量測檔位，PD 測量范圍為 1pC - 6000pC
A195004 具有兩個 PD 量測檔位，PD 測量范圍為 1pC - 2000pC
測試結(jié)束后，主機會將測量數(shù)據(jù)與結(jié)果直觀地顯示在屏幕上，便于對放電量進行判定與分析。

A195004 的外型采用等腰梯形設(shè)計，專為自動機臺應(yīng)用打造，可使需要多臺測試的自動機臺將高壓模塊進行扇形排列，優(yōu)化空間利用率。此外，插入式連接設(shè)計讓 A195004 更接近測試座，縮短測試線長度（降低線材對測試結(jié)果的影響），且高壓模塊插拔便捷，提升了產(chǎn)品維護與維修的便利性。

抗干擾設(shè)計
高壓模塊（A195004 & A195005）用于測量元件在測試過程中產(chǎn)生的微小放電量。由于局部放電的放電速度極快（納秒級，nS）、頻率高、信號微弱，周圍環(huán)境（如機械運轉(zhuǎn)、電機運轉(zhuǎn)或其他噪聲）中的高頻噪聲（如電磁波）容易干擾微小放電量的測量，造成測量誤差，進而影響 PD 的測量與判定。降低并避免局部放電量測回路受到外在環(huán)境干擾，是生產(chǎn)業(yè)者與自動化設(shè)備商面臨的重要課題，也是局部放電測試儀設(shè)計技術(shù)的一大挑戰(zhàn)。
鑒于測試環(huán)境中可能存在不可避免的高頻噪聲，儀器采用測試 & 測量與操作 & 顯示分離式設(shè)計，將高壓模塊（負責(zé)測試 & 測量）與主機（負責(zé)操作 & 顯示）分開。高壓模塊可盡可能靠近待測物進行測量，減少測試線受環(huán)境高頻噪聲的干擾；測量線路采用信號隔離設(shè)計，使測量回路盡可能最短。此外，低壓回路端使用同軸電纜線隔離環(huán)境噪聲，避免測量回路受干擾；同時采用金屬遮罩將待測物與環(huán)境噪聲隔離，確保測量精度。

產(chǎn)品應(yīng)用
相關(guān)標準針對特定產(chǎn)品要求 / 建議執(zhí)行局部放電測試（Partial Discharge Test），并提供局部放電測試電壓（Vpd）的參考公式。局部放電測試通常建議 / 要求將最大額定隔離工作電壓或zui大額定重復(fù)峰值隔離電壓（取兩者中較高值）乘以 1.875 倍，作為局部放電測試電壓。
局部放電測試電壓（Vpd）的計算公式
Vpd = F × VIOWM（當(dāng) VIOWM > VIORM 時）
F：加嚴常數(shù)
常規(guī)測試：F = 1.875
樣品測試 & 壽命測試：F = 1.6
耐久性測試后的測試：F = 1.2
VIOWM：zui大額定隔離工作電壓
VIORM：zui大額定重復(fù)峰值隔離電壓

三種符合標準的測試
Chroma 19501 內(nèi)置標準要求的三種測試方法（1、2 與 3），設(shè)定畫面下方會顯示示意圖，輔助用戶設(shè)定測試參數(shù)與選擇測試方法，方便用戶快速上手。

三段電壓測試方法
為滿足制造商在符合標準局部放電測試要求的同時，可根據(jù)自身品質(zhì)要求采用高于標準的測試電壓執(zhí)行局部放電測試，以提升產(chǎn)品品質(zhì)，Chroma 19501 新增了三段電壓測試方法（4）與（5）。該測試方法的流程為：xian ji行耐電壓測試（di一段電壓測試），再使用高于標準局部放電測試要求的電壓執(zhí)行局部放電測試（第二段電壓測試），最后使用符合標準要求的局部放電測試電壓（Vpd）執(zhí)行局部放電測試（第三段電壓測試）。此方法既能滿足標準要求，又能提升產(chǎn)品品質(zhì)。

高頻電壓的應(yīng)用（jin限 A195004）
高頻電壓具有三大優(yōu)點：
提高輸出電壓頻率可增加電壓峰值出現(xiàn)的頻率，縮短 PD 測試時間，提升產(chǎn)能；
待測物的原始絕緣狀態(tài)可能存在不穩(wěn)定因素（如濕氣、灰塵、毛邊等），導(dǎo)致局部放電起始電壓（PDIV）結(jié)果不穩(wěn)定。為獲得更穩(wěn)定的 PDIV 結(jié)果，可先使用較高頻率的高電壓對待測物的不穩(wěn)定因素進行預(yù)處理 —— 較高電壓可消除不穩(wěn)定因素，較高頻率可縮短消除時間；
需分析待測物絕緣品質(zhì)弱點或?qū)ふ胰觞c位置時，可使用較高頻率的高電壓加速待測物絕緣劣化 —— 較高電壓（>PDIV）可使絕緣逐漸劣化，較高頻率可縮短劣化時間。

PD 不良次數(shù)判定功能
PD 發(fā)生時的信號極其微弱，易受環(huán)境高頻噪聲干擾。PD 不良次數(shù)判定功能的目的是降低外部噪聲干擾導(dǎo)致的測試結(jié)果誤判，確認局部放電確實發(fā)生于待測物上，而非環(huán)境的一次性干擾。待測物上的局部放電通常會隨電壓周期性變化而發(fā)生周期性放電，因此相較于環(huán)境高頻噪聲，局部放電更為穩(wěn)定。
Chroma 19501 以測試電壓的每個半波周期為單位，計數(shù) PD 持續(xù)發(fā)生且超過電荷量上限（Q Max）的次數(shù)。每連續(xù) 5 個半波周期內(nèi)，必須發(fā)生超過 2 次電荷量上限（Q Max）的 PD 放電，計數(shù)才會累加 —— 即di一次發(fā)生超過電荷量上限的 PD 放電后，4 個半波周期內(nèi)（2 個完整周期）需再發(fā)生 1 次，計數(shù)才累加；否則計數(shù)歸零并重新開始。當(dāng)計數(shù)達到 / 超過設(shè)定的次數(shù)上限，判定為不良。

HVCC 高壓接觸檢查功能
對高絕緣能力的元件，在高壓輸出前進行接觸檢查至關(guān)重要。Chroma 獨特的高壓接觸檢查功能（High Voltage Contact Check: HVCC）采用開爾文（Kelvin）測試方法，在高壓輸出前對高絕緣能力元件進行接觸檢查，以提升測試可靠性與生產(chǎn)效率，

訂購信息

Model 19501 局部放電測試器規(guī)格

注 1：計時器設(shè)定僅適用于單臺主機。

高壓模塊規(guī)格（HV Module: A195005 & A195004）

注 2：600Hz 頻率下，電壓范圍為 0.1kVac - 5.0kVac。注 3：PD 測量量程由zui大負載電容決定，可用 PD 測量量程會隨電容變化。注 4：PD 測量采用符合 IEC60270 標準的校正脈沖發(fā)生器進行驗證，規(guī)格中的測量精度定義為校正發(fā)生器的相對誤差。

PD 校正器規(guī)格（Model: A195001）